多功能原子力顯微鏡是一種高分辨率的顯微成像技術(shù)，不僅可以在納米尺度上對(duì)樣品表面進(jìn)行形貌表征，還能研究物質(zhì)的其他物理性質(zhì)，如力學(xué)特性、磁性、電學(xué)性質(zhì)等。核心部分是一根具有微小尖的懸臂梁（cantilever），其末端裝有探針。當(dāng)探針靠近樣品表面時(shí)，原子之間的相互作用力（包括范德華力、靜電力、磁力等）將引起懸臂梁的偏折。通過激光反射系統(tǒng)或隧道電流方式檢測(cè)這種微小的偏折，即可獲得作用于探針上的力的信息。隨后，通過掃描樣品表面并記錄各點(diǎn)的作用力，便可構(gòu)建出樣品表面的三維形貌圖。
1.高分辨率：AFM可以在納米甚至亞納米級(jí)別上提供有關(guān)表面形貌的詳細(xì)信息。
2.多面性：除了表面形貌外，AFM還可以測(cè)量樣品的其他物理性質(zhì)。
3.適用性廣：可在空氣、液體等多種環(huán)境中工作，適用于不同的樣品類型。
4.無損傷：非侵入式測(cè)量方式使得對(duì)柔軟或脆弱樣品的觀測(cè)不會(huì)造成損害。
5.操作簡(jiǎn)便：相對(duì)于其他顯微技術(shù)，AFM的操作更為簡(jiǎn)單直觀。
主要功能：
1.表面形貌成像：最基本也是常用的功能，用于觀察從原子到微米尺度的表面結(jié)構(gòu)。
2.力學(xué)性質(zhì)映射：通過測(cè)量探針與樣品間的接觸剛度來獲取局部彈性模量等信息。
3.磁力性能探測(cè)：利用磁性探針可以對(duì)樣品表面的磁場(chǎng)分布進(jìn)行成像。
4.電學(xué)性質(zhì)分析：結(jié)合導(dǎo)電探針，AFM能夠進(jìn)行局部電流或電勢(shì)的測(cè)量。
5.分子及化學(xué)識(shí)別：通過特定的探針修飾，AFM能在分子水平上識(shí)別不同化學(xué)物質(zhì)。
多功能原子力顯微鏡的應(yīng)用領(lǐng)域：
1.材料科學(xué)：研究各種材料的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。
2.生命科學(xué)：觀察生物大分子如蛋白質(zhì)、DNA等的結(jié)構(gòu)及其相互作用。
3.數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：用于研究磁存儲(chǔ)介質(zhì)的表面磁疇結(jié)構(gòu)。
4.微電子學(xué)：檢測(cè)半導(dǎo)體器件的局部電導(dǎo)率和失效分析。
5.納米加工：利用AFM探針進(jìn)行納米刻蝕、操縱和組裝。
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